Поиск

Особенности сканирующей туннельной микроскопии высокоомных пленок: теория и эксперимент

Авторы: Почтенный, Артем Евгеньевич Стукалов, О. М. Ильюшонок, Ирина Петровна
Местонахождение Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/611767829
Дата корректировки 8:08:56 8 февраля 2023 г.
Служба первич. каталог. Яновская
БГТУ
БГТУ
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 537.533.35
Почтенный, Артем Евгеньевич
А. Е. Почтенный
Особенности сканирующей туннельной микроскопии высокоомных пленок: теория и эксперимент
Текст
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 3 назв.
высокоомные пленки
пленки фталоцианинов
сканирующая зондовая микроскопия
сканирующая туннельная микроскопия
фталоцианин меди
фталоцианин свинца
вольтамперные характеристики
Другие авторы Стукалов, О. М.
Полное имя О. М. Стукалов
Ильюшонок, Ирина Петровна
И. П. Ильюшонок
Белорусский государственный технологический университет
Кафедра физики
Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г.
Минск: Издат. центр БГУ, 2002
С. 69-72
Тип документа b