| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/438793943 |
| Дата корректировки | 16:46:27 3 апреля 2020 г. |
| Вид содержания и средства доступа | 0-72 |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 543.45(075) |
| Полочн. индекс | 543 |
| Авторский знак | Б 31 |
|
Бацанов, Степан Сергеевич С. С. Бацанов |
|
|
Структурная рефрактометрия учебное пособие для студентов химических специальностей университетов Текст |
|
| Основные сведения об издании | Изд. 2-е, перераб. и доп. |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Высшая школа |
| Дата издания | 1976 |
| Объем | 302, [2] c. |
| Аннотация | Излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическим пространстве. |
| Ключевые слова | рефрактометрия |
|
аналитическая химия методы расчета рефракций метод использования рефракций кристаллические вещества константы химических веществ |
|
| Тип документа | m |
