| Индекс УДК | 543.45(075) |
|
Структурная рефрактометрия учебное пособие для студентов химических специальностей университетов Текст |
|
| Основные сведения об издании | Изд. 2-е, перераб. и доп. |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Высшая школа |
| Дата издания | 1976 |
| Объем | 302, [2] c. |
| Аннотация | Излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическим пространстве. |
| Ключевые слова | рефрактометрия |
