Поиск

Исследование возможностей спектральной эллипсометрии для измерения толщины тонких и сверхтонких пленок

Авторы: Гуревич, В. Л. Белова, Е. А.
Местонахождение Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/683718406
Дата корректировки 10:33:46 3 июня 2022 г.
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Служба первич. каталог. Свежинцева
Код языка издания rus
Индекс УДК 535.082.5:681.78
Гуревич, В. Л.
В. Л. Гуревич
Исследование возможностей спектральной эллипсометрии для измерения толщины тонких и сверхтонких пленок
Текст
Место издания Минск
Издательство БНТУ
Дата издания оригинала 2020
тонкие пленки
сверхтонкие пленки
пленки тонкие
пленки сверхтонкие
толщина пленок
спектральная эллипсометрия
измерение толщины пленки
измерение пленок
Белова, Е. А.
Е. А. Белова
Белорусский государственный институт метрологии
Белорусский национальный технический университет
Приборостроение - 2020
Минск : БНТУ, 2020
С. 189-190
RU/IS/BASE/672143416
978-985-583-587-6
Тип документа b