Поиск

Установка определения и анализа точечных дефектов на поверхности полупроводниковых пластин

Авторы: Прислопский, С. Я. Смирнов, А. Г. Станкевич, В. В. Балыкин, И. В. Рыжевич, А. А.
Местонахождение Подробная информация
Индекс УДК 537.311.322:681.513.2
Автор Прислопский, С. Я.
Установка определения и анализа точечных дефектов на поверхности полупроводниковых пластин
Текст
Место издания Минск
Издательство Беларуская навука
Дата издания оригинала 2019
Ключевые слова полупроводниковые пластины
Другие авторы Смирнов, А. Г.
Молодежь в науке - 2019. Аграрные, биологические, гуманитарные, медицинские, физико-математические, физико-технические науки, химия и науки о Земле
Минск : Беларуская навука, 2019
С. 427-429
RU/IS/BASE/638889749
978-985-08-2501-8