| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/636648596 |
| Дата корректировки | 11:39:41 5 марта 2020 г. |
| Вид содержания и средства доступа | 3-44 |
| Служба первич. каталог. |
Лапко БГТУ |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 537.533.35 |
| Полочн. индекс | 537 |
| Авторский знак | Э45 |
| Хирш, П. | |
|
Электронная микроскопия тонких кристаллов Текст [монография] : пер. с англ. под ред. Л. М. Утевского |
|
| Electron Microscopy of Thin Crystals | |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Мир |
| Дата издания оригинала | 1968 |
| Объем | 574 с. |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Примечание | Парал. тит. л.: англ. |
| Аннотация | Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. |
| Служебное примечание | Hirsch, Р. B. |
|
Howie, A. Nicholson, R. B. Pashley, D. W. Whelan, M. J. |
|
|
тонкие кристаллы электронная микроскопия кристаллы электронный микроскоп кинетическая теория дифракция электронов геометрия электронограмм динамическая теория контраста темнопольная микроскопия периодические структуры упорядоченные структуры |
|
|
Хови, А. Николсон, Р. Пэшли, Д. Уэлан, М. |
|
| Тип документа | m |
