Поиск

Электронная микроскопия тонких кристаллов

Авторы: Хирш, П. Hirsch, Р. B. Howie, A. Nicholson, R. B. Pashley, D. W. Whelan, M. J. Хови, А. Николсон, Р. Пэшли, Д. Уэлан, М.
Заказ Местонахождение Подробная информация
Индекс УДК 537.533.35
Электронная микроскопия тонких кристаллов
Текст
[монография] : пер. с англ.
под ред. Л. М. Утевского
Место издания Москва
Издательство Мир
Дата издания оригинала 1968
Объем 574 с.
Примечание Парал. тит. л.: англ.