| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/635260439 |
| Дата корректировки | 13:13:59 17 февраля 2020 г. |
| Служба первич. каталог. | Яновская |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 535 |
| Автор | Стаськов, Н. И. |
| Полное имя | Н. И. Стаськов |
|
Определение толщины пленки TiO[2], на подложке Ti методом спектроэллипсометрии Текст |
|
| Место издания | Могилев |
| Издательство | МГУ им. А. А. Кулешова |
| Дата издания оригинала | 2007 |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
| Библиография | Библиогр.: 5 назв. |
| Ключевые слова | оптические методы исследования |
|
эллипсометрия спектроэллипсометрия исследование тонких пленок тонкие пленки титановые отражающие системы |
|
| Другие авторы | Ивашкевич, И. В. |
| Полное имя | И. В. Ивашкевич |
|
Паушкина, О. А. О. А. Паушкина |
|
|
Оптика неоднородных структур - 2007 Могилев : МГУ им. А. А. Кулешова, 2007 С. 103-106 RU/IS/BASE/627559569 978-985-480-428-6 |
|
| Тип документа | b |
