| Индекс УДК | 535 |
| Автор | Стаськов, Н. И. |
|
Определение толщины пленки TiO[2], на подложке Ti методом спектроэллипсометрии Текст |
|
| Место издания | Могилев |
| Издательство | МГУ им. А. А. Кулешова |
| Дата издания оригинала | 2007 |
| Ключевые слова | оптические методы исследования |
| Другие авторы | Ивашкевич, И. В. |
|
Оптика неоднородных структур - 2007 Могилев : МГУ им. А. А. Кулешова, 2007 С. 103-106 RU/IS/BASE/627559569 978-985-480-428-6 |
