| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/590584751 |
| Дата корректировки | 11:19:11 18 сентября 2018 г. |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Служба первич. каталог. | Яновская |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 548.736.15:620.3 |
| Автор | Новиков, Н. В. |
| Полное имя | Н. В. Новиков |
|
Туннельный микроскоп с алмазным острием как инструмент аттестации поверхности наноструктурированных материалов Текст |
|
| Место издания | Минск |
| Издательство | Беларуская навука |
| Дата издания оригинала | 2017 |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., цв. ил., табл. |
| Библиография | Библиогр.: 23 назв. |
| Ключевые слова | сканирующий туннельный микроскоп |
|
монокристаллы полупроводниковые алмазы зонд свилы боратное стекло нанолитография |
|
| Другие авторы | Цысарь, М. А. |
| Полное имя | М. А. Цысарь |
|
Чепугов, А. П. А. П. Чепугов |
|
| Организация/ юрисдикция | Институт сверхтвердых материалов им. В. Н. Бакуля НАН Украины |
|
Наноструктурные материалы: технологии, свойства, применение Минск : Беларуская навука, 2017 С. 313-324 RU/IS/BASE/587032375 978-985-08-2242-0 |
|
| Тип документа | b |
