| Индекс УДК | 548.736.15:620.3 |
| Автор | Новиков, Н. В. |
|
Туннельный микроскоп с алмазным острием как инструмент аттестации поверхности наноструктурированных материалов Текст |
|
| Место издания | Минск |
| Издательство | Беларуская навука |
| Дата издания оригинала | 2017 |
| Ключевые слова | сканирующий туннельный микроскоп |
| Другие авторы | Цысарь, М. А. |
|
Наноструктурные материалы: технологии, свойства, применение Минск : Беларуская навука, 2017 С. 313-324 RU/IS/BASE/587032375 978-985-08-2242-0 |
