| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/535457638 |
| Дата корректировки | 8:09:39 20 декабря 2016 г. |
| Вид содержания и средства доступа | 6-20 |
| Служба первич. каталог. |
Лапко БГТУ |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 620.22 |
| Полочн. индекс | 620.2 |
| Авторский знак | Д50 |
|
Амелинкс, С. ред. С. Амелинкс |
|
|
Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении Текст под ред.: С. Амелинкса, Р. Геверса, Дж. Ван Ландё ; пер. с англ.: канд. физ.-мат. наук А. М. Глезера, И. А. Русаковой, А. В. Суязова ; под ред. д-р физ.-мат. наук М. П. Усикова |
|
| Дифракционные и микроскопические методы | |
| Diffraction and Imaging Technigues in Material Science | |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Металлургия |
| Дата издания оригинала | 1984 |
| Объем | 501, [1] с. |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Аннотация | Книга содержит статьи, посвященные современному состоянию и возможностям структурных методов исследования твердых тел - дифракционной электронной микроскопии, рентгенографии, нейтронографии, рентгеновской топографии, дифракции медленных электронов, автоионной микроскопии. |
|
Amelinckx, S. Gevers, R. Van Landuyt, J. |
|
|
материаловедение физическое материаловедение дифракционная электронная микроскопия дифракция медленных электронов нейтронографические методы рентгенографические методы рентгеновская топография автоионная микроскопия |
|
|
Геверс, Р. ред. Р. Геверс Ван Ландё, Дж. ред. Дж. Ван Ландё |
|
| Тип документа | m |
