Поиск

Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении

Авторы: Амелинкс, С. Amelinckx, S. Gevers, R. Van Landuyt, J. Геверс, Р. Ван Ландё, Дж.
Заказ Местонахождение Подробная информация
Индекс УДК 620.22
Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении
Текст
под ред.: С. Амелинкса, Р. Геверса, Дж. Ван Ландё ; пер. с англ.: канд. физ.-мат. наук А. М. Глезера, И. А. Русаковой, А. В. Суязова ; под ред. д-р физ.-мат. наук М. П. Усикова
Место издания Москва
Издательство Металлургия
Дата издания оригинала 1984
Объем 501, [1] с.