Определение толщины пленки TiO[2], на подложке Ti методом спектроэллипсометрии
Стаськов, Н. И., Ивашкевич, И. В., Паушкина, О. А.
Определение толщины пленки TiO[2], на подложке Ti методом спектроэллипсометрии, [Текст]
Могилев :
МГУ им. А. А. Кулешова ,
2007 .-
ил., табл.
Оптика неоднородных структур - 2007, Могилев : МГУ им. А. А. Кулешова, 2007, С. 103-106, RU/IS/BASE/627559569, 978-985-480-428-6
