Идентификация деградации, обусловленной электрическим стрессом, в МОП транзисторах по поведению боковой емкости
Атамуратова, З. А., Юсупов, А.
Идентификация деградации, обусловленной электрическим стрессом, в МОП транзисторах по поведению боковой емкости, [Текст]
Гродно :
ГрГУ им. Янки Купалы ,
2022 .-
ил.
RU/IS/BASE/713347921, Физика конденсированного состояния, Гродно : ГрГУ им. Янки Купалы, 2022, С. 121-123