| Индекс УДК | 53.04 |
| Автор | Атамуратова, З. А. |
|
Идентификация деградации, обусловленной электрическим стрессом, в МОП транзисторах по поведению боковой емкости Текст |
|
| Место издания | Гродно |
| Издательство | ГрГУ им. Янки Купалы |
| Дата издания оригинала | 2022 |
| Ключевые слова | идентификация деградации |
|
RU/IS/BASE/713347921 Физика конденсированного состояния Гродно : ГрГУ им. Янки Купалы, 2022 С. 121-123 |
