Поиск

Анализ поверхности кремния, имплантированного ионами серебра, методами спектральной эллипсометрии и дифракции отраженных электронов

Авторы: Базаров, В. В. Нуждин, В. И. Валеев, В. Ф. Воробьев, В. В. Осин, Ю. Н. Степанов, А. Л.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/509464198
Дата корректировки 13:49:58 22 февраля 2016 г.
Служба первич. каталог. Боровик
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 546.28:535.42/.44
Базаров, В. В.
Анализ поверхности кремния, имплантированного ионами серебра, методами спектральной эллипсометрии и дифракции отраженных электронов
Текст
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 16 назв.
пористый кремний
ионная имплантация
спектральная эллипсометрия
дифракция отраженных электронов
Другие авторы Нуждин, В. И.
Валеев, В. Ф.
Воробьев, В. В.
Осин, Ю. Н.
Степанов, А. Л.
Журнал прикладной спектроскопии
2016
Т. 83, № 1. - С. 55-59
Тип документа b