Индекс УДК | 546.28:535.42/.44 |
Анализ поверхности кремния, имплантированного ионами серебра, методами спектральной эллипсометрии и дифракции отраженных электронов Текст |
|
Другие авторы | Нуждин, В. И. |
Журнал прикладной спектроскопии 2016 Т. 83, № 1. - С. 55-59 |