Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей
Громыко, Ирина Григорьевна, Кудряшова, Алина Николаевна, Прохорчик, Сергей Александрович, Бабаханова, Халима Абишевна, Галимова, Зулфия Камиловна
Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей, [Текст]
Минск :
БГТУ ,
2024 .-
ил., табл.
Труды БГТУ. Сер. 4, Принт- и медиатехнологии, 2024, № 1 (279). - С. 5-12, RU/IS/BASE/766578280, [ко всему сборнику] Издается с июля 1993 года, 2520-6729