Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов
Стукалов, О. М., Почтенный, Артем Евгеньевич, Миронов, В. Л., Грибков, Б. А., Гапонов, С. В.
Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов, [Текст]
ил.
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г., Минск: Издат. центр БГУ, 2002, С. 73-79
