| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/339762451 |
| Дата корректировки | 12:35:08 21 мая 2014 г. |
| Номер государственной регистрации | 20062486 |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 536.758+539.311 |
| Полочн. индекс | 6884н.о. |
|
Численное и аналитическое исследование равновесных свойств статистической модели деформирования и структурно-фазовых переходов в трехмерных и двумерных системах по теме: Характеристики кристаллической структуры и физических свойств многокомпонентных оксидных не содержащих свинца сегнетоэлектриков и халькогенидных полупроводников переменного состава; разработка статистической теории упругости и фазовых переходов в кристаллических и аморфных системах Текст отчет о НИР (промежуточный) Министерство образования Республики Беларусь, Учреждение образования "Белорусский государственный технологический университет" ; рук. И. И. Наркевич ; исполн.: И. И. Наркевич, А. В. Жаркевич, Е. В. Фарафонтова, И. О. Сологуб |
|
| Характеристики кристаллической структуры и физических свойств многокомпонентных оксидных не содержащих свинца сегнетоэлектриков и халькогенидных полупроводников переменного состава | |
| Разработка статистической теории упругости и фазовых переходов в кристаллических и аморфных системах | |
| Основные сведения об издании | ГБ 26-136 ; ГР 20062486 |
| Дополнительные сведения об издании | Инв. 6884н.о. |
| Место издания | Минск |
| Дата издания оригинала | 2009 |
| Объем | 31, [2] с. |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., прил. |
| Ключевые слова | молекулярные системы |
|
сегнетоэлектрики полупроводники халькогенидные теория упругости статистическая переходы фазовые кристаллические системы аморфные системы корреляционные функции двумерная статистическая модель интегральные уравнения модифицированное приближение энтропия внутренняя энергия свободная энергия метод условных распределений кристаллы молекулярные метод термодинамических функционалов двухуровневое описание потенциалы средних сил всефазное уравнение состояния тонкие пленки деформированные трехмерные образцы дефекты вакансии деформирование |
|
| Тип документа | m |
