Исследование локальных фотоэлектронных свойств наноструктурированных тонких пленок методами фотоассистированной сканирующей зондовой микроскопии Отчет о НИР (промежуточ.) БГТУ;Руководитель Почтенный А.Е..-ГР20021504 |
|
Минск 2002 |
|
41с |