Разработка и исследование методов контроля геометрических параметров субмикрометрового диапазона микроэлектронных структур на основе дифрактометрии
Истомина, Наталья Леонидовна
Разработка и исследование методов контроля геометрических параметров субмикрометрового диапазона микроэлектронных структур на основе дифрактометрии, [Текст], автореф. дис. ... канд. технических наук : 05.12.13, Государственный комитет Российской Федерации по высшему образованию, Московский государственный технологический университет им. К. Э. Циолковского
Москва :
1995 .-
15, [4] с. .-
ил.