| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/638289194 |
| Дата корректировки | 15:26:04 24 марта 2020 г. |
| Вид содержания и средства доступа | 2-56 |
| Служба первич. каталог. |
Лапко БГТУ |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 539.211 |
| Полочн. индекс | 539 |
| Авторский знак | Н74 |
| Броэрс, А. Н. | |
|
Новое в исследовании поверхности твердого тела Текст [лекции] ред.: Т. Джайядевайя, Р. Ванселов ; пер. с англ. под ред. В. Б. Сандомирского, А. Г. Ждана Вып. 2 |
|
| Место издания | Москва |
| Издательство | Мир |
| Дата издания оригинала | 1977 |
| Объем | 370, [1] с. |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Аннотация | Лекции отражают современное состояние физических, физико-химических и химических исследований поверхности твердого тела. Данный выпуск содержит описание тонких и эффективных физических методов прямого изучения структуры поверхности твердого тела и процессов, происходящих на ней, а также полученных этими методами результатов. |
|
поверхности твердого тела топография поверхностей метод растровой электронной микроскопии метод автоионной микроскопии поверхностные состояния поверхностные свойства полупроводников |
|
|
Дьюк, К. Б. Трейси, Д. К. Лихтман, Д. Гринлер, Р. Фрэнкл, Д. Р. Грин, Р. Ф. |
|
| Тип документа | m |
