Поиск

Полноводный метод исследования свойств многослойных тонкопленочных структур

Авторы: Хомченко, А. В. Романенко, А. А. Сотский, А. Б. Куканов, А. А.
Местонахождение Подробная информация
Индекс УДК 535.32:538.8
Автор Хомченко, А. В.
Полноводный метод исследования свойств многослойных тонкопленочных структур
Текст
Место издания Могилев
Издательство МГУ им. А. А. Кулешова
Дата издания оригинала 2004
Ключевые слова многослойные структуры
Другие авторы Романенко, А. А.
Оптика неоднородных структур
Могилев : МГУ им. А. А. Кулешова, 2004
С.76-78
RU/IS/BASE/627558417
985-480-073-3