Поиск

Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов

Авторы: Котюк, Андрей Федорович Ольшевский, Виктор Владимирович Цветков, Эрик Иванович
Заказ Местонахождение Подробная информация
Индекс УДК 519.216
Методы и аппаратура для анализа характеристик случайных процессов
Текст
Место издания Москва
Издательство Энергия
Дата издания оригинала 1967
Объем 239, [1] с.
Аннотация В книге излагаются вопросы изучения различных статистических характеристик случайных процессов, в том числе и нестационарных. Оценивается точность измерительных приборов и комплексов с позиций статистической теории.
Другие авторы Ольшевский, Виктор Владимирович