Электронно-микроскопическая диагностика особенностей наноструктуры функциональных материалов на основе оксидных пленок
Швамм, К. Л., Колосов. В. Ю.
Электронно-микроскопическая диагностика особенностей наноструктуры функциональных материалов на основе оксидных пленок, [Текст]
Москва :
[РОСНАНО] ,
2008 .-
ил
Rusnanotech'08, Москва : [РОСНАНО], 2008, С.106-107, RU/IS/BASE/605185555