Надежность изделий микроэлектроники
Юхновец, Б. П.
Надежность изделий микроэлектроники, [Текст], обзорная информация, Центральный научно-исследовательский институт информации и технико-экономических исследований приборостроения, средств автоматизации и систем управления ; [авт. Б. П. Юхновец ; отв. за вып. Б. М. Бормотов], Вып. 2
Москва :
Центральный научно-исследовательский институт информации и технико-экономических исследований приборостроения, средств автоматизации и систем управления ,
1972 .-
17, [3] c. .-
табл.
