Маркер записи | n 22 3 4500 |
Контрольный номер | zhps24_to91_no5_ss667_ad1 |
Дата корректировки | 11:13:46 28 февраля 2025 г. |
Кодируемые данные | 250205s2024||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
Системный контрольный номер | RUMARS-zhps24_to91_no5_ss667_ad1 |
AR-MARS | |
Служба первич. каталог. |
Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева МАРС |
Код языка каталог. | rus |
Код языка издания |
rus rus |
Индекс УДК | 535.33 |
Индекс ББК | 22.344 |
Таблицы для массовых библиотек | |
Бушинский, М. В. 070 |
|
Структурные, оптические и электрофизические свойства пленок La[0,13]Bi[0,87]FeO[3], полученных методом высокочастотного лазерного испарения в вакууме М. В. Бушинский, А. Н. Чобот, Л. В. Баран [и др.] |
|
Текст | |
непосредственный | |
Библиография | Библиогр.: с. 674 (41 назв. ) |
Аннотация | Методом высокочастотного импульсно-периодического f = 10-13 кГц воздействия лазерного излучения с длиной волны 1. 064 мкм и плотностью мощности q = 57 МВт/см{2} на керамику La[0, 13]Bi[0, 87]FeO[3] при давлении в вакуумной камере p = 4. 6 Па получены наноструктурированные тонкие пленки на кремниевой подложке. Изучена морфология тонких пленок La[0. 13]Bi[0. 87]FeO[3] с помощью атомно-силовой микроскопии. Получены спектры пропускания пленок в видимой, ближней и средней ИК-областях. Проведен анализ электрофизических свойств структуры La[0. 13]Bi[0. 87]Fe[03]/Si. |
Физика AR-MARS Спектроскопия AR-MARS |
|
Ключевые слова |
высокочастотное лазерное воздействие наноструктурированные тонкие пленки спектры пропускания и отражения структура тонких пленок электрофизические свойства пленок |
Чобот, А. Н. 070 Баран, Л. В. 070 Малютина-Бронская, В. В. 070 Обрадович, Б. М. 070 Сакан, Н. М. 070 Босак, Н. А. 070 |
|
ISSN | 0514-7506 |
Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
Место и дата издания | 2024 |
Прочая информация | Т. 91, № 5. - С. 667-674 |
RU 43013090 20250205 RCR |
|
RU 43013090 20250205 |
|
RU AR-MARS 20250205 RCR |
|
RU AR-MARS 20250205 |
|
Тип документа | b |
code year to no ss ad |
|
zhps 2024 91 5 667 1 |
|
718 | |
Спектроскопия твердых тел |