| Индекс УДК |
535.2/3 616.5 |
|
Анализ спектров комбинационного рассеяния света при возбуждении на длинах волн 532 и 785 nm для экспресс-диагностики опухолей кожи И. Н. Сараева, Е. Н. Римская, А. В. Горевой [и др.] |
|
| Объем | 1 файл (562 Кб) |
| Примечание |
Загл. с титул. экрана Статья, представленная на конференции "Сверхбыстрые оптические явления (UltrafastLight-2023) " |
| Аннотация | Микроспектроскопия комбинационного рассеяния света является важным методом диагностики рака кожи на ранних стадиях. Проведена дифференциация злокачественных новообразований кожи (базальноклеточные карциномы кожи, плоскоклеточные карциномы), доброкачественных новообразований кожи (папилломы) и здоровой кожи путем получения спектров комбинационного рассеяния in vitro при возбуждении на длинах волн 532 и 785 nm и их анализа с помощью метода главных компонентов. Выполнено сопоставление спектральных признаков компонентов с известными пиками молекулярных колебаний; показано, что дифференциальная диагностика при длине волны возбуждения 785 nm является более надежной, чем при 532 nm, обеспечивая вероятность правильной классификации выше 90%. Предложенные методы могут быть применены для in vivo анализа при неинвазивной экспресс-диагностике с использованием соответствующего оборудования для получения спектров. |
| Название источника | Оптика и спектроскопия |
| Место и дата издания | 2024 |
| Прочая информация | Т. 132, № 1. - С. 13-20 |
|
https://elibrary.ru/item.asp?id=67211221 |
