Маркер записи | n 22 3 4500 |
Контрольный номер | zhps23_to90_no2_ss350_ad1 |
Дата корректировки | 11:27:34 30 октября 2023 г. |
Кодируемые данные | 231027s2023||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
Системный контрольный номер | RUMARS-zhps23_to90_no2_ss350_ad1 |
AR-MARS | |
Служба первич. каталог. |
Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева МАРС |
Код языка каталог. | rus |
Код языка издания |
eng eng |
Индекс УДК |
535.33 533.9 |
Индекс ББК |
22.344 22.333 |
Таблицы для массовых библиотек Таблицы для массовых библиотек |
|
Wu, W. 070 |
|
Effect of temperature on visible photoluminescence of thermally annealed pbse nanocrystalline films W. Wu, Bo. Li, X. Xiang, X. Zu |
|
Влияние температуры на видимую фотолюминесценцию термически отожженных нанокристаллических пленок PbSe rus |
|
Текст | |
непосредственный | |
Библиография | Библиогр.: с. 350 (37 назв. ) |
Аннотация | Исследована фотолюминесценция (ФЛ) нанокристаллических пленок PbSe, отожженных при различных температурах. Видимая ФЛ на длинах волн 655 и 466 нм наблюдается для свежеприготовленных пленок PbSe, а повышенная интенсивность двух максимумов ФЛ связана с оптимизированным качеством кристаллизации наночастиц PbSe после отжига при 50–150°C. Поскольку температура отжига >200°С, сильное повреждение поверхности пленок PbSe, вызванное примесными фазами оксида и дефектами дислокаций, приводит к снижению кристалличности PbSe и более низким интенсивностям ФЛ, что подтверждено методом рентгеновской дифракции. При температуре отжига >200°С наблюдается еще один максимум излучения при 429 нм из-за появления примесной фазы PbO, интенсивность которого сильно зависит от содержания PbO, тогда как при температуре >350°С интенсивность ФЛ уменьшается из-за образования PbSeOx. |
Физика AR-MARS Спектроскопия AR-MARS Электронные и ионные явления. Физика плазмы AR-MARS |
|
Ключевые слова |
пленка PbSe плотность дислокаций примесная фаза PbO температура отжига фотолюминесценция |
Li, Bo. 070 Xiang, X. 070 Zu, X. 070 |
|
ISSN | 0514-7506 |
Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
Место и дата издания | 2023 |
Прочая информация | Т. 90, № 2. - С. 350 |
RU 43013090 20231027 RCR |
|
RU 43013090 20231027 |
|
RU AR-MARS 20231027 RCR |
|
RU AR-MARS 20231027 |
|
Тип документа | b |
code year to no ss ad |
|
zhps 2023 90 2 350 1 |
|
718 | |
Аннотации англоязычных статей |