Индекс УДК | 535.33 |
Многопараметрическая калибровка состава низколегированных сталей по предобработанным эмиссионным спектрам низкого разрешения с выбором спектральных переменных М. В. Бельков, К. Ю. Кацалап, Д. А. Королько, М. А. Ходасевич |
|
Аннотация | По эмиссионным спектрам низкого разрешения лазерно-искровой плазмы эталонных образцов низколегированных сталей осуществлена калибровка концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu. На основе предварительной обработки данных в виде нормировки спектров на длине волны эмиссионной линии Fe II 252. 0609 нм и вычета базовой линии, а также выбора спектральных переменных оригинальным методом поиска комбинации движущихся окон для метода частичных наименьших квадратов построены многопараметрические калибровочные модели для указанных элементов со следующими характеристиками: для C (в диапазоне концентраций до 0. 7 %) среднеквадратичное и остаточное отклонения в проверочной выборке составили 0. 04 % и 4. 7, Mn (до 1. 9 %) 0. 02 % и 24. 8, Si (до 0. 9 %) 0. 01 % и 12. 9, Cr (до 1 %) 0. 01 % и 21. 8, Ni (до 0. 7 %) 0. 007 % и 23. 3, Cu (до 0. 5 %) 0. 006 % и 23. 2 соответственно. Модели являются количественными (остаточное отклонение >3) для шести рассматриваемых элементов, включая C. |
Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
Место и дата издания | 2023 |
Прочая информация | Т. 90, № 2. - С. 174-179 |