| Индекс УДК | 535.33 |
|
Диэлектрические измерения нанокристаллических пленок VO[2] : Fe А. В. Ильинский, Р. А. Кастро, В. А. Климов [и др.] |
|
| Объем | 1 файл (221 Кб) |
| Примечание | Загл. с титул. экрана |
| Аннотация | Методами диэлектрической спектроскопии в полупроводниковой фазе пленок VO[2] : Fe обнаружено существование двух типов релаксационных процессов. Характерные времена релаксации обозначены tau[1] и tau[2]. Показано, что температурные зависимости tau[1] и tau[2] имеют гистерезис, положение петель которого совпадает с областью фазового перехода полупроводник-металл в пленках VO[2] : Fe. tau[1] соответствует нелегированным, а tau[2] - легированным Fe-нанокристаллитам пленки VO[2]. Показано, что физический механизм процесса релаксации обусловлен установлением равновесия в системе электронов проводимости после воздействия электрического поля на пленку VO[2]. Определены численные значения параметров распределения релаксаторов по временам релаксации. |
| Название источника | Оптика и спектроскопия |
| Место и дата издания | 2022 |
| Прочая информация | Т. 130, № 10. - С. 1491-1498 |
|
https://www.elibrary.ru/item.asp?id=49748249 |
