| Индекс УДК | 535.33 |
|
Многопараметрическая калибровка концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu в низколегированных сталях методами лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии по необработанным спектрам с низким разрешением М. В. Бельков, Д. А. Борисевич, К. Ю. Кацалап, М. А. Ходасевич |
|
| Аннотация | По необработанным лазерно-искровым эмиссионным спектрам низкого разрешения, зарегистрированным для эталонных образцов низколегированных сталей, построены многопараметрические модели для калибровки концентраций шести химических элементов (C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu), представляющих собой основные технологические примеси и легирующие добавки. Многопараметрические модели содержания C (среднеквадратичное отклонение калибровки по проверочной выборке 0. 06 %) и Mn (0. 12 %) являются количественными с достаточной для практического применения точностью, полуколичественными для Si (0. 09 %) и Ni (0. 07 %) и качественными для Cr (0. 13 %) и Cu (0. 08 %). |
| Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
| Место и дата издания | 2021 |
| Прочая информация | Т. 88, № 5. - С. 737-742 |
