| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/692962138 |
| Дата корректировки | 9:28:58 16 декабря 2021 г. |
| 10.21883/OS.2019.05.47654.167-18 | |
| Служба первич. каталог. | Феллер |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 535.33 |
| Павленко, А. В. | |
|
Структура и оптические характеристики пленок ниобатов бария-стронция на подложках Al[2]O[3] Электронный ресурс |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
| Библиография | Библиогр.: 13 назв. |
| Аннотация | Проведены исследования структуры и оптических характеристик тонких пленок сегнетоэлектрика-релаксора Ba[0.5]Sr[0.5]Nb[2]O[6], выращенных методом высокочастотного RF-напыления в атмосфере кислорода на подложке Al[2]O[3] (c-срез). Рентгеноструктурные исследования показали, что пленки Ba[0.5]Sr[0.5]Nb[2]O[6] являются c-ориентированными, параметр c элементарной ячейки составил 3.948(1)A. Эллипсометрическими измерениями подтверждено, что пленки SBN-50 характеризуются естественным направлением роста, которое совпадает с направлением оптической оси кристалла. Анализ результатов эллипсометрических измерений показал отсутствие переходного слоя на границе пленка-подложка; толщина нарушенного слоя на свободной поверхности пленки 7.5 nm, коэффициент объемного заполнения оценивается как 0.625. |
|
пленки ниобатов бария-стронция ниобаты бария-стронция подложки тонкие пленки сегнетоэлектрик-релаксор эллипсометрические измерения барий стронций |
|
|
Кара-Мурза, С. В. Корчикова, А. П. Тихий, А. А. Стрюков, Д. В. Ковтун, Н. В. |
|
|
Оптика и спектроскопия 2019 Т. 126, вып. 5. - С. 568-572 |
|
| Имя макрообъекта | Павленко_структура и оптические |
| Тип документа | b |
