Поиск

Исследование валентного перехода в системе О[2]-Yb-Si(111) с помощью метода фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением

Авторы: Кузьмин, М. В. Митцев, М. А.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/690988814
Дата корректировки 13:41:57 23 ноября 2021 г.
10.21883/FTT.2017.10.44976.106
Служба первич. каталог. Войтик
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 539.21
Кузьмин, М. В.
Исследование валентного перехода в системе О[2]-Yb-Si(111) с помощью метода фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением
Электронный ресурс
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 14 назв.
Аннотация С помощью метода фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением проведены исследования структур Yb-Si(111) и O[2]-Yb-Si(111) и получены данные о распределение двух- и трехвалентных ионов в нанопленках иттербия в случае, когда адсорбированный слой молекул на их поверхности еще не полностью сформирован и валентный переход Yb{2+} - Yb{3+} не завершен. Показано, что распределение ионов Yb{2+} и Yb{3+} вглубь нанопленок близко к изотропному и что его протяженность составляет 9 или более монослоев. Полученные результаты свидетельствуют о том, что в формировании 5d-зоны иттербия, стимулированном адсорбированными молекулами, участвуют все атомы нанопленки, подтверждая предположения, сделанные в более ранних публикациях.
Ключевые слова нанопленки
структура иттербий-кремний
структура кислород-иттербий-кремний
валентный переход
фотоэлектронная спектроскопия
Другие авторы Митцев, М. А.
Название источника Физика твердого тела
Место и дата издания 2017
Прочая информация Т. 59, вып. 10. - С. 2032-2036
Имя макрообъекта Кузьмин_исследование
Тип документа b