Каталог библиотеки БГТУ

1. Базы данных
2. Статьи
3. Исследование методом спектроскопии фотоотражения слоев LT-GaAs, выращенных на подложках Si и GaAs

Исследование методом спектроскопии фотоотражения слоев LT-GaAs, выращенных на подложках Si и GaAs

Авторы: Авакянц, Л. П. Боков, П. Ю. Казаков, И. П. Базалевский, М. А. Деев, П. М. Червяков, А. В.