Поиск

Модель накопления зарядов в n- и p-МОП-транзисторах при туннельной инжекции электронов из затвора

Авторы: Александров, О. В. Мокрушина, С. А.
Подробная информация
Индекс УДК 621.315.592
Модель накопления зарядов в n- и p-МОП-транзисторах при туннельной инжекции электронов из затвора
Электронный ресурс
Аннотация Разработана количественная модель накопления зарядов в подзатворном диэлектрике при туннельной инжекции электронов из затвора по механизму Фаулера-Нордгейма. В модели учитывается захват электронов и дырок на безводородные и водородосодержащие ловушки, а также генерация поверхностных состояний при взаимодействии дырок с водородосодержащими центрами. На основе модели проанализированы экспериментальные зависимости сдвигов порогового напряжения и напряжения на затворе n- и p-канальных МОП-транзисторов от инжектируемого заряда в режиме постоянного тока.
Ключевые слова туннельная инжекция электронов
Физика и техника полупроводников
2018
Т. 52, вып. 6. - С. 637-642
Имя макрообъекта Александров_модель