| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/687453421 |
| Дата корректировки | 15:45:04 13 октября 2021 г. |
| 10.21883/FTT.2017.01.43970.174 | |
| Служба первич. каталог. | Войтик |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 539.21 |
| Даньшина, В. В. | |
|
Сравнительный анализ толщины и электрической проводимости тонких халькогенидных полупроводниковых пленок Электронный ресурс |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
| Библиография | Библиогр.: 7 назв. |
| Аннотация | Проведено рентгенографическое исследование структуры и толщины полупроводниковых пленок халькогенидов цинка и кадмия. Показано, что толщина пленок соизмерима с глубиной половинного слоя ослабления рентгеновских лучей. При нагревании в атмосфере водорода электрическая проводимость пленок увеличивается, а при нагревании в оксиде углерода уменьшается. Получена противоположная тенденция в соотношении величин электрической проводимости и ширины запрещенной зоны исходной и окисленной поверхностей пленок. |
| Ключевые слова | полупроводниковые пленки |
|
халькогениды цинка халькогениды кадмия электрическая проводимость |
|
| Другие авторы | Калистратова, Л. Ф. |
| Название источника | Физика твердого тела |
| Место и дата издания | 2017 |
| Прочая информация | Т. 59, вып. 1. - С. 172-175 |
| Имя макрообъекта | Даньшина_сравнительный |
| Тип документа | b |
