| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/687266738 |
| Дата корректировки | 11:35:35 11 октября 2021 г. |
| 10.21883/FTP.2018.01.45324.8628 | |
| Служба первич. каталог. | Шавель |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 621.315.592 |
| Бойко, М. Е. | |
|
Изучение сверхструктуры в сильно легированном пористом фосфиде индия рентгеновскими методами Электронный ресурс |
|
| Exploring superstructure in high doped porous indium phosphide via X-ray techniques | |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Библиография | Библиогр.: 9 назв. |
| Аннотация | Образец фосфида индия InP, подвергнутый процедуре порообразования и затем легированный атомами S, исследован методами рентгеновской дифрактометрии и малоуглового рассеяния рентгеновских лучей (МУРР) (при CuK[альфа1]-излучении). Исходя из данных рентгеновской дифракции, показано, что образец состоит из когерентных (однонаправленных) однородных компонент. С помощью точечного детектора в режиме аномального прохождения по Борману получен ряд кривых малоуглового рассеяния рентгеновских лучей при положениях образца, варьируемых азимутальными поворотами. На основе зарегистрированных данных смоделирована 2D-картина малоуглового рассеяния рентгеновских лучей для исследуемого образца, которая позволила определить трансляционную симметрию кластеров и, следовательно, присутствие сверхструктуры. Определены межплоскостные расстояния в сверхструктуре в направлениях (110) относительно решеткиIn P как ~ 260 и 450 нм соответственно. Симметрия сверхструктуры определена как C[2v] в плоскости решетки образца (001). |
| Ключевые слова | фосфид индия |
|
рентгеновская дифрактометрия малоугловое рассеяние монокристаллы |
|
|
Шарков, М. Д. Карлина, Л. Б. Бойко, А. М. Конников, С. Г. |
|
|
Физика и техника полупроводников 2018 Т. 52, вып. 1. - С. 89-92 |
|
| Имя макрообъекта | Бойко_изучение |
| Тип документа | b |
