Маркер записи | n |
Контрольный номер | RU/IS/BASE/686420174 |
Дата корректировки | 16:22:43 1 октября 2021 г. |
10.21883/FTP.2017.11.45114.29 | |
Служба первич. каталог. | Шавель |
Код языка каталог. | rus |
Правила каталог. | PSBO |
Код языка издания | rus |
Индекс УДК | 621.315.592 |
Акимов, А. Н. | |
Связь длинноволновой границы чувствительности пленок PbSnTe : In, полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии, с их составом и структурой Электронный ресурс |
|
Long-wavelegth limit of MBE-grown PbSnTe : In films sensitivity: relation to structure and composition | |
Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
Библиография | Библиогр.: 10 назв. |
Аннотация | Исследованы пленки PbSnTe : In с длинноволновой границей чувствительности свыше 20мкм и низкой проводимостью без освещения. Проведено сравнение спектральных зависимостей фотопроводимости, полученных при различных температурах с использованием фурье-спектрометра, с составом пленок, определенным методом рентгеновского микроанализа. Обнаружена немонотонная зависимость длинноволнового края фоточувствительности от температуры, которая объясняется комбинацией температурной зависимости ширины запрещенной зоны PbSnTe и эффекта Бурштейна-Мосса, дающего наибольший вклад в измерения при низких температурах из-за большого времени жизни неравновесных носителей заряда. Показано, что различия в значениях ширины запрещенной зоны, определяемых из измеренного состава и температурных зависимостей длинноволнового края чувствительности, могут быть связаны с неоднородностьюсо става пленок, получаемых методом молекулярно-лучевой эпитаксии. |
Ключевые слова | твердые растворы |
теллурид свинца и олова индий молекулярно-лучевая эпитаксия фотопроводимость пленок |
|
Климов, А. Э. Пащин, Н. С. Ярошевич, А. С. Савченко, М. Л. Эпов, В. С. Федосенко, Е. В. |
|
Название источника | Физика и техника полупроводников |
Место и дата издания | 2017 |
Прочая информация | Т. 51, вып. 11. - С. 1574-1578 |
Имя макрообъекта | Акимов_связь |
Тип документа | b |