Индекс УДК | 539.2 |
Определение материальных параметров фоторефрактивных кристаллов на основе метода адаптивной голографической интерферометрии С. М. Шандаров, А. О. Злобин, А. А. Шмидт [и др.] |
|
Аннотация | Рассмотрено применение методов голографической интерферометрии, основанных на взаимодействии стационарного опорного светового пучка с фазово-модулированным сигнальным пучком на создаваемых ими возмущениях диэлектрического тензора в фоточувствительных кристаллах, для измерения материальных параметров, определяющих величину этих возмущений. Определены экспериментальные условия, при которых возможно выделение вкладов во взаимодействие флексоэлектрического и электрогирационного эффектов в кубических фоторефрактивных кристаллах класса силленитов; показана необходимость учета вклада в него эффекта флексогирации. |
Название источника | Оптика и спектроскопия |
Место и дата издания | 2021 |
Прочая информация | Т. 129, вып. 4. - С. 413-417 |