| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/681311240 |
| Дата корректировки | 13:11:26 3 августа 2021 г. |
| 10.21883/FTP.2017.07.44641.27 | |
| Служба первич. каталог. | Шавель |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 621.315.592 |
| Крушельницкий, А. Н. | |
|
Зависимость морфологии поверхности ультратонких пленок висмута на слюдяной подложке от толщины пленки Электронный ресурс |
|
| The dependence of surface morphology of ultrathin bismuth films onto mica substrate on the film thickness | |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Библиография | Библиогр.: 11 назв. |
| Аннотация | Представлены результаты исследования поверхности пленок висмута толщинами 15-100 нм на слюдяной подложке методом атомно-силовой микроскопии. Установлен близкий к линейному характер зависимостей средней шероховатости поверхности и средней высоты фигуры роста от толщины пленки. Обнаружено увеличение среднего размера кристаллитов с увеличением толщины пленки, и выявлена слабая зависимость размера кристаллита от толщины при толщинах 27-70 нм. |
| Ключевые слова | висмут |
|
пленки висмута слюдяная подложка атомно-силовая микроскопия кристаллиты |
|
|
Демидов, Е. В. Иванова, Е. К. Каблукова, Н. С. Комаров, В. А. |
|
|
Физика и техника полупроводников 2017 Т. 51, вып. 7. - С. 914-916 |
|
| Имя макрообъекта | Крушельницкий_зависимость |
| Тип документа | b |
