Маркер записи | n |
Контрольный номер | RU/IS/BASE/680172706 |
Дата корректировки | 9:20:38 21 июля 2021 г. |
10.21883/FTT.2019.07.47839.298 | |
Служба первич. каталог. | Войтик |
Код языка каталог. | rus |
Правила каталог. | PSBO |
Код языка издания | rus |
Индекс УДК | 539.21 |
Каминский, В. В. | |
Влияние циклической нагрузки на величину областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения в кристаллических образцах Электронный ресурс |
|
Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
Библиография | Библиогр.: 7 назв. |
Аннотация | Обнаружено влияние циклической нагрузки на величину областей когерентного рассеяния (ОКР) рентгеновского излучения и микронапряжений II рода в различных кристаллических материалах: полупроводниковых (сульфид самария) и металлических (сталь, дюралюминий). Нагружение осуществлялось путем сжатия образцов различными способами: всестороннее, одноосное, сжатие при изгибе. Показано, что при увеличении количества циклов сжатия величины ОКР во всех случаях уменьшаются, а микронапряжения увеличиваются. Эти величины могут служить параметрами для оценки степени механической усталости материала. |
Ключевые слова | кристаллические материалы |
полупроводниковые материалы сульфид самария металлические материалы сталь дюралюминий область когерентного рассеяния рентгеновское излучение микронапряжения циклические нагрузки усталость материалов |
|
Другие авторы | Шаренкова, Н. В. |
Название источника | Физика твердого тела |
Место и дата издания | 2019 |
Прочая информация | Т. 61. вып. 7. - С. 1287-1289 |
Имя макрообъекта | Каминский_влияние |
Тип документа | b |