Поиск

Влияние циклической нагрузки на величину областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения в кристаллических образцах

Авторы: Каминский, В. В. Шаренкова, Н. В.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/680172706
Дата корректировки 9:20:38 21 июля 2021 г.
10.21883/FTT.2019.07.47839.298
Служба первич. каталог. Войтик
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 539.21
Каминский, В. В.
Влияние циклической нагрузки на величину областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения в кристаллических образцах
Электронный ресурс
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 7 назв.
Аннотация Обнаружено влияние циклической нагрузки на величину областей когерентного рассеяния (ОКР) рентгеновского излучения и микронапряжений II рода в различных кристаллических материалах: полупроводниковых (сульфид самария) и металлических (сталь, дюралюминий). Нагружение осуществлялось путем сжатия образцов различными способами: всестороннее, одноосное, сжатие при изгибе. Показано, что при увеличении количества циклов сжатия величины ОКР во всех случаях уменьшаются, а микронапряжения увеличиваются. Эти величины могут служить параметрами для оценки степени механической усталости материала.
Ключевые слова кристаллические материалы
полупроводниковые материалы
сульфид самария
металлические материалы
сталь
дюралюминий
область когерентного рассеяния
рентгеновское излучение
микронапряжения
циклические нагрузки
усталость материалов
Другие авторы Шаренкова, Н. В.
Название источника Физика твердого тела
Место и дата издания 2019
Прочая информация Т. 61. вып. 7. - С. 1287-1289
Имя макрообъекта Каминский_влияние
Тип документа b