Индекс УДК | 621.315.592 |
Характеристики барьеров Шоттки тонкопленочных, двухконтактных структур Al/пленка из наночастиц Si/ITO Электронный ресурс |
|
Ключевые слова | барьеры Шоттки |
Физика и техника полупроводников 2017 Т. 51, вып. 5. - С. 637-646 |
|
Имя макрообъекта | Кононов_характеристики |