| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/679491800 |
| Дата корректировки | 12:49:24 13 июля 2021 г. |
| 10.21883/FTT.2019.05.47589.22F | |
| Служба первич. каталог. | Войтик |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 539.21 |
| Абишев, Н. М. | |
|
Деформационное уширение и тонкая структура спектральных линий в оптических спектрах диэлектрических кристаллов, содержащих редкоземельные ионы Электронный ресурс |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
| Библиография | Библиогр.: 24 назв. |
| Аннотация | Разработана методика расчета формы спектральных линий в оптических спектрах редкоземельных ионов в кристаллах с учетом случайных деформаций упруго анизотропной кристаллической решетки, обусловленных точечными дефектами. Функция распределения компонент тензора случайных деформаций в случае малой концентрации дефектов получена в виде обобщенного шестимерного распределения Лоренца. Параметры функции распределения представлены интегральными функционалами компонент тензора деформации на сфере единичного радиуса, содержащей в центре изотропный точечный дефект. Выполнены численные расчеты тензоров деформаций, индуцированных точечными дефектами, и параметров функций распределения случайных деформаций в кристаллах LiLuF[4] и LaAlO[3]. Вычисленная огибающая с дублетной структурой, отвечающая синглет-дублетному переходу из Г[2]({3}H[4]) в Г[34]({3}H[5]) в спектре поглощения ионов Pr{3+} в кристалле LiLuF[4], хорошо согласуется с данными измерений. |
| Ключевые слова | кристаллы |
|
диэлектрические кристаллы редкоземельные ионы дефекты кристаллов точечные дефекты деформации кристаллов оптические спектры |
|
| Другие авторы | Байбеков, Э. И. |
|
Малкин, Б. З. Попова, М. Н. Пыталев, Д. С. Климин, С. А. |
|
| Название источника | Физика твердого тела |
| Место и дата издания | 2019 |
| Прочая информация | Т. 61, вып. 5. - С. 898-904 |
| Имя макрообъекта | Абишев_деформационное |
| Тип документа | b |
