Поиск

Анализ влияния неодномерных эффектов на отпирающий ток управления тиристорных структур на основе 4H-SiC

Авторы: Юрков, С. Н. Мнацаканов, T. T. Левинштейн, М. Е. Тандоев, А. Г. Palmour, J. W.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/679065524
Дата корректировки 13:27:31 8 июля 2021 г.
10.21883/FTP.2017.02.44111.8335
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Юрков, С. Н.
Анализ влияния неодномерных эффектов на отпирающий ток управления тиристорных структур на основе 4H-SiC
Электронный ресурс
Impact of non-one-dimensional effects on switched-on gate current in 4H-SiC thyristors
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 23 назв.
Аннотация Рассмотрено влияние неодномерных эффектов, обусловленных растеканием тока управления в базовом слое, на величину отпирающего тока управления тиристоров на основе 4H-SiC. Показано, что реализующийся в 4H-SiC тиристорах новый механизм переключения приводит к зависимости отпирающего тока управления от параметров тиристора, качественно отличающейся от соответствующей зависимости в традиционных кремниевых тиристорах.
Ключевые слова тиристоры
высоковольтные тиристоры
SiC-тиристоры
карбид кремния
неодномерные эффекты
Мнацаканов, T. T.
Левинштейн, М. Е.
Тандоев, А. Г.
Palmour, J. W.
Физика и техника полупроводников
2017
Т. 51, вып. 2. - С. 234-239
Имя макрообъекта Юрков_анализ
Тип документа b