Поиск

Cтруктурные исследования нанокомпозитов ZnS : Cu (5 ат%) в пористом Al[2]O[3] различной толщины

Авторы: Валеев, Р. Г. Тригуб, А. Л. Чукавин, А. И. Бельтюков, А. Н.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/678807259
Дата корректировки 13:42:50 5 июля 2021 г.
10.21883/FTP.2017.02.44108.8344
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Валеев, Р. Г.
Cтруктурные исследования нанокомпозитов ZnS : Cu (5 ат%) в пористом Al[2]O[3] различной толщины
Электронный ресурс
Structural investigations of ZnS : Cu (5 at%) nanocomposites of porous Al[2]O[3] with different thicknesses
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Библиография Библиогр.: 15 назв.
Аннотация Представлены результаты исследований методами EXAFS, XANES и рентгенодифракционных исследований наноразмерных структур ZnS : Cu (5 ат%), полученных методом термического осаждения смеси порошков ZnS и Cu в матрицы пористого анодного оксида алюминия с диаметром пор 80 нм и толщиной 1, 3 и 5мкм. Проведено сравнение с результатами, полученными для пленок ZnS : Cu, осажденных на поверхность поликора. Рентгенофазовый анализ образцов показал наличие соединений меди и цинка с серой (Cu[2]S и ZnS соответственно), причем последнее находится в кубической (сфалерит) и гексагональной (вюрцит) модификациях. EXAFS- и XANES-исследования на K-крае поглощения цинка и меди показали, что в образцах, напыленных на поликор и оксид алюминия толщиной 3 и 5мкм, большая часть атомов меди находится в соединении Cu[2]S, тогда как в образце, напыленном на слой оксида алюминия толщиной 1мкм, атомы меди формируют на поверхности образца металлические частицы. Наличие кристаллической меди оказывает влияние на межатомное расстояние Zn-S для образца с толщиной слоя пористого Al[2]O[3] 1 мкм: оно меньше по сравнению с характерным для других образцов.
Ключевые слова нанокомпозиты
сульфид цинка
медь
сера
анодный оксид алюминия
оксид алюминия
рентгенофазовый анализ
Тригуб, А. Л.
Чукавин, А. И.
Бельтюков, А. Н.
Физика и техника полупроводников
2017
Т. 51, вып. 2. - С. 216-221
Имя макрообъекта Валеев_структурные
Тип документа b