Маркер записи | n |
Контрольный номер | RU/IS/BASE/676053521 |
Дата корректировки | 16:44:40 3 июня 2021 г. |
Стандартный номер | 10.21883/FTP.2020.07.49506.9336 |
Служба первич. каталог. | Шавель |
Код языка каталог. | rus |
Правила каталог. | PSBO |
Код языка издания | rus |
Индекс УДК | 621.315.592 |
Николаев, В. В. | |
Метод матриц рассеяния для расчета спонтанной излучательной рекомбинации в структурах с цилиндрической симметрией Электронный ресурс |
|
Scattering matrix method for calculating spontaneous emission probability in cylindrically symmetrical structures | |
Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
Библиография | Библиогр.: 13 назв. |
Аннотация | Разработан метод анализа модификации спонтанного излучения в структурах с цилиндрической симметрией. Выведен метод матриц рассеяния для цилиндрических структур. На основе матриц рассеяния получены правила квантования электромагнитного поля (S-квантование) в цилиндрических системах. Получены общие выражения для темпа излучательной рекомбинации эмиттера, находящегося в произвольной точке структуры. Выведены количественные показатели, дающие оценку усилению и подавлению излучательной рекомбинации, которые могут рассматриваться как модовые факторы Парселла. Получено выражение для суммарного фактора Парселла для излучения в направлении, перпендикулярном оси симметрии среды, а также выражение для интегрального (полного) фактора Парселла для эмиттера на оси симметрии. |
Ключевые слова | нанофотоника |
спонтанная излучательная рекомбинация эффект Парселла спонтанное излучение полупроводниковые квантовые точки микродисковые лазеры цилиндрическая симметрия |
|
Иванов, К. А. Морозов, К. М. Белоновский, А. В. |
|
Физика и техника полупроводников 2020 Т. 54, вып. 7. - С. 654-662 |
|
Имя макрообъекта | Николаев_метод |
Тип документа | b |