Поиск

Гетероструктура 2D SiC/Si: электронные состояния и адсорбционная способность

Авторы: Давыдов, С. Ю. Зубов, А. В.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/676046483
Дата корректировки 14:45:14 3 июня 2021 г.
10.21883/FTP.2020.07.49507.9350
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Давыдов, С. Ю.
Гетероструктура 2D SiC/Si: электронные состояния и адсорбционная способность
Электронный ресурс
Heterostructure 2D SiC/Si: electron states and adsorptive capability
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 29 назв.
Аннотация Предложена модель гетероструктуры, представляющей собой монослой карбида кремния, сформированный на массивной кремниевой подложке. Рассмотрена задача об адсорбции атомов щелочных металлов и галогенов на атомах углерода и кремния поверхности гетероструктуры 2D SiC/Si. Приведены аналитические оценки перехода заряда и энергии адсорбции.
Ключевые слова двумерные гексагональные слои
полупроводниковые подложки
плотность состояний
адсорбция
гетероструктуры
карбит кремния
кремниевые подложки
двумерный карбид кремния (2D SiC)
Зубов, А. В.
Физика и техника полупроводников
2020
Т. 54, вып. 7. - С. 663-669
Имя макрообъекта Давыдов_гетероструктура
Тип документа b